Аппаратный дефект микропроцессора, являющийся общим для всех процессоров данного типа. Обычно такие дефекты являются следствием ошибок проектирования, выявляющихся уже после запуска изделия в серийное производство, когда внесение изменений в архитектуру процессора проблематично. Подобные дефекты встречаются у всех производителей ИС; последние как правило публикуют перечни выявленных "ошибок кристалла" и способы "обхода" проблемы при программировании.